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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-293 - C6-296 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984949 | |
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-293-C6-296
DOI: 10.1051/jphyscol:1984949
A COMBINED FIELD ELECTRON AND FIELD ION MICROSCOPE
N. Ernest1 et G. Ehrlich21 Fritz-Haber Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Faradayweg 4-6, D-1000 Berlin 33, F.R.G.
2 Coordinated Science Laboratory, University of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, IL 61801, U.S.A.
Résumé
Une combinaison entre microscope ionique de champ et microscope électronique de champ à trou-sonde équipés avec un iris ajustable et un système informatique d'acquisition de données est décrite. Le diamètre minimum du trou-sonde est comparable à la taille de spot de l'image ionique de champ d'un atome de surface et la détection de particules individuelles a été démontrée. Des mesures de travail de sortie sur du tungstène (110) propre ou recouvert de Re sont données.
Abstract
A combined field ion- and field electron probe hole miscroscope equipped with an adjustable iris and computer aided data acquisition is described ; the minimum probe hole diameter is comparable to the spot size of the field ion image of a single surface atom, and single particle detection has been demonstrated. Work function measurements on clean and Re covered W(110) are reported.