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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-265 - C6-268 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984945 | |
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-265-C6-268
DOI: 10.1051/jphyscol:1984945
QUANTIFICATION OF INTERCONNECTED MICROSTRUCTURES BY FIM
P.P. Camus1, W.A. Soffa1, S.S. Brenner1 et M.K. Miller21 University of Pittsburgh, Pittsburgh, PA 15236, U.S.A.
2 Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831, U.S.A.
Résumé
Les propriétés physiques des matériaux biphasés sont en grande partie déterminées par la morphologie de la microstructure. Pour les matériaux contenant des précipités isolés, la microstructure pourra être entièrement définie par la taille, la forme et la densité des particules. Néanmoins, pour les systèmes dont les deux phases sont interconnectées, la morphologie est beaucoup plus difficile à décrire quantitativement. Cet article fait le point sur quelques approches possibles permettant par microscopie ionique de champ, d'obtenir les paramètres quantitatifs pour décrire des morphologies plus complexes.
Abstract
The physical properties of two-phase materials are largely determined by the morphology of the microstructure. With materials containing isolated precipitates, the microstructure can be fully defined by the size, shape, and number density of the particles. However, in systems in which both phases are interconnected, a quantitative description of the morphology is much more difficult to make. This paper points out some possible approaches to obtaining quantitative parameters to describe these more complex morphologies using field ion microscopy.