| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-297 - C2-300 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984266 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-297-C2-300
DOI: 10.1051/jphyscol:1984266
Physikalisches Institut, Universität Münster, Domagkstrasze 75, D-4400 Münster, F.R.G.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-297-C2-300
DOI: 10.1051/jphyscol:1984266
TOTAL RATE IMAGING WITH X-RAYS IN A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
P. Bernsen et L. ReimerPhysikalisches Institut, Universität Münster, Domagkstrasze 75, D-4400 Münster, F.R.G.
Résumé
Les intensités du rayonnement x total sont calculées pour des éléments purs et comparées aux valeurs expérimentales obtenues avec un détecteur scintillateur. L'application de ces résultats aux images x est discutée.
Abstract
Calculations of the total rate of emitted x-rays are compared with measurements on pure elements using a scintillation detector. Application of the total rate imaging with x-rays are discussed.