| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-33 - C2-36 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984208 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-33-C2-36
DOI: 10.1051/jphyscol:1984208
School of Materials Science, University of Bath, U.K.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-33-C2-36
DOI: 10.1051/jphyscol:1984208
X-RAY STUDIES RELATED TO COATING THICKNESS MEASUREMENTS
D.A. Sewell, I.D. Hall, G. Love, J.P. Partridge et V.D. ScottSchool of Materials Science, University of Bath, U.K.
Résumé
Des mesures d'intensité des rayons X sont faites sur une série de substrats avec des couches soigneusement calibrées. On propose une formule pour la détermination de l'épaisseur des couches ; elle peut être aussi utilisée pour donner la profondeur maximale de génération des rayons X.
Abstract
X-ray measurements are carried out on a series of substrates with carefully prescribed coatings. An equation is developed for determining coating thickness and canalso be used to give values for the x-ray range.