Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 49, Numéro C4, Septembre 1988
ESSDERC 8818th European Solid State Device Research Conference |
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Page(s) | C4-269 - C4-273 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1988456 |
ESSDERC 88
18th European Solid State Device Research Conference
J. Phys. Colloques 49 (1988) C4-269-C4-273
DOI: 10.1051/jphyscol:1988456
SGS-Thomson Microelectronics, Central R and D/CIS/TDMC, BP 217, F-38019 Grenoble Cedex, France
18th European Solid State Device Research Conference
J. Phys. Colloques 49 (1988) C4-269-C4-273
DOI: 10.1051/jphyscol:1988456
"WCAP" : WORST CASE ANALYSIS PROGRAM : A TOOL FOR STATISTICAL CIRCUIT SIMULATION
N. BALLAY et B. BAYLACSGS-Thomson Microelectronics, Central R and D/CIS/TDMC, BP 217, F-38019 Grenoble Cedex, France
Résumé
Le but du programme "WCAP" est d'extraire automatiquement les dispersions des paramètres du premier ordre d'un modèle CAO, directement depuis plusieurs histogrammes d'indicateurs classiques (tension de seuil, courants statiques, ...) usuellement mesurés sur des testeurs industriels.
Abstract
The goal of "WCAP" Program is to extract automatically first order CAD model parameter spreads directly from various histograms of classical indicators (threshold voltage, static currents, ...) usually measured on industrial parametric testers.