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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C1, Février 1986
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics
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Page(s) | C1-285 - C1-289 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986141 |
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics
J. Phys. Colloques 47 (1986) C1-285-C1-289
DOI: 10.1051/jphyscol:1986141
Equipe Matériaux-Microstructure du L.A. 251, ISMRa, Université, F-14032 Caen Cedex, France
J. Phys. Colloques 47 (1986) C1-285-C1-289
DOI: 10.1051/jphyscol:1986141
MORPHOLOGICAL CHARACTERIZATION OF SiC MATERIALS
J.L. CHERMANT, M. COSTER et R. MOUSSAEquipe Matériaux-Microstructure du L.A. 251, ISMRa, Université, F-14032 Caen Cedex, France
Résumé
L'analyse quantitative d'images a été utilisée pour mesurer les principales caractéristiques morphologiques de quelques nuances de SiC-Al : caractéristiques granulométriques, forme et anisotropie des cristaux. L'homogénéité de ces céramiques a été étudiée par des méthodes statistiques.
Abstract
Quantitative image analysis were used to measure the main morphological characteristics of some SiC-Al materials : size distribution characteristics, shape and anisotropy of the Sic-crystals. Statistical methods were utilized to inform on the homogeneity of these materials.