Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 32, Numéro C1, Février 1971
EXPOSÉS et COMMUNICATIONS présentés à la 7ème CONFÉRENCE INTERNATIONALE DE MAGNÉTISME 1970
Page(s) C1-256 - C1-258
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jphyscol:1971184
EXPOSÉS et COMMUNICATIONS présentés à la 7ème CONFÉRENCE INTERNATIONALE DE MAGNÉTISME 1970

J. Phys. Colloques 32 (1971) C1-256-C1-258

DOI: 10.1051/jphyscol:1971184

X-RAY TOPOGRAPHIC INVESTIGATION OF FERROMAGNETIC DOMAIN STRUCTURES WITH CLOSURE DOMAIN CONFIGURATIONS IN IRON-SILICON SINGLE CRYSTALS

M. SCHLENKER1 and M. KLEMAN2

1  Laboratoire d'Electrostatique et de Physique du Métal du C. N. R. S., Cedex 166, 38 Grenoble-Gare
2  Service de Physique des Solides, Faculté des Sciences, 91, Orsay


Résumé
On a étudié la structure en domaines de plaques monocristallines de fer-silicium (2,4 % en masse), de surface (110), soumises à une traction parallèle à [1-10] à l'aide de l'effet Kerr et de la méthode de topographie en rayons X par transmission de Lang. L'usage de « sections » et de topographies par translation renseigne sur les distorsions du réseau, et donc sur la structure des domaines à l'intérieur d'échantillons d'épaisseur voisine de 0,l mm. En particulier, certaines « sections » semblent fournir des images de parois à 90° internes, et les franges qui apparaissent sur les topographies peuvent s'interpréter comme des lignes de niveau sur des parois internes.


Abstract
The domain structure of single-crystal (110) plates of 2.4 wt % silicon-iron was investigated under tensile stress parallel to [1-10] by means of the Kerr technique and of Lang's method of transmission X-ray topography. It was possible, by using both section and traverse topographs, to gain information about the lattice distorsions, and therefore the domain structure, within specimens about 0,1 mm thick. In particular, some section topographs seem to provide images of internal 90° walls, and the fringe system which appears on traverse topographs can be interpreted as a set of equal-depth contours for internal walls.