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Article cité :

EXTENDED DEPTH PROFILING WITH THE IAP

S.D. WALCK, T. BUYUKLIMANLI, J.J. HREN

J. Phys. Colloques, 47 C2 (1986) C2-451-C2-458

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986269

PDF (1.056 MB)

Citations de cet article :

Effect of Dynamic Reconstruction on Particle Size and Morphology in Atom Probe Tomography

Constantinos Hatzoglou, Paraskevas Kontis, Heena Khanchandani, Gerald Da Costa, Baptiste Gault and François Vurpillot
Microscopy and Microanalysis 31 (2) (2025)
https://doi.org/10.1093/mam/ozaf006

Simulation of FIM images of precipitation-hardening alloys

Naoyuki Sano
Applied Surface Science 76-77 297 (1994)
https://doi.org/10.1016/0169-4332(94)90358-1