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Article cité :

Role of the different chemical components in the conditioning process of air exposed copper surfaces

V. Petit, M. Taborelli, H. Neupert, P. Chiggiato and M. Belhaj
Physical Review Accelerators and Beams 22 (8) (2019)
https://doi.org/10.1103/PhysRevAccelBeams.22.083101

Secondary electron yield measurements from materials with application to collectors of high-power microwave devices

N.D. Zameroski, P. Kumar, C. Watts, et al.
IEEE Transactions on Plasma Science 34 (3) 642 (2006)
https://doi.org/10.1109/TPS.2006.875778