| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-315 - C2-317 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984271 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-315-C2-317
DOI: 10.1051/jphyscol:1984271
Kernforschungszentrum Karlsruhe, IK II, Postfach 3640, D-7500 Karlsruhe, F.R.G.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-315-C2-317
DOI: 10.1051/jphyscol:1984271
ON CHANGES OF SECONDARY EMISSION BY RESONANT TUNNELING VIA ADSORBATES
J. HalbritterKernforschungszentrum Karlsruhe, IK II, Postfach 3640, D-7500 Karlsruhe, F.R.G.
Résumé
La contamination de la surface modifie la probabilité de transmission P(ε) d'électrons à basses énergies, causant l'apparition de structures de résonance dans les courbes de distribution d'énergie. Selon la variation de P(ε) l'émission d'électrons secondaires peut augmenter ou diminuer.
Abstract
Surface contaminations modify the transmission probability P(ε) of slow electrons, yielding structures in the energy distribution curves and enhancing or reducing the secondary electron emission.