ANALYSIS OF STRUCTURES OF SYMMETRICAL [001] TILT GRAIN BOUNDARIES IN SILICON AND GERMANIUM

Abstract
A partir de résultats expérimentaux obtenus par Microscopie Electronique Haute Resolution et relaxation numérique sur les joints Σ=5, Σ=65 , Σ=13, Σ=25 et Σ=41, une analyse de la structure des joints de grains de flexion d'axe [001] dans le silicium et le germanium est réalisée. Le modele habituel des unites structurales (Sutton) se revèle insuffisant pour expliquer tous les résultats expérimentaux obtenus dans ces matériaux. Toutefois le concept d'unité structurale-dislocation employé d'une facon plus générale permet de determiner et d'analyser les nouveaux modèles expérimentalement observés.

Abstract
Using experimental results obtained by High Resolution Electron Microscopy (HREM) and numerical relaxation on Σ=5, Σ=65, Σ=13, Σ=25 and Σ=41 grain boundaries in silicon and germanium, an analysis of the structures of the symmetrical [001] tilt grain boundaries is presented. The limitation of the usual structural unit model (SUM) when applied to this material is shown. However, the efficiency of the concept of structural unit-dislocation in determining and analysing new complex structures is demonstrated.