Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 51, Numéro C1, Janvier 1990
Proceeding of the International CongressIntergranular and Interphase Boundaries in materials |
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Page(s) | C1-947 - C1-956 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19901148 |
J. Phys. Colloques 51, C1-947-C1-956 (1990)
DOI: 10.1051/jphyscol:19901148
Institut für Festkörperphysik und Elektronenmikroskopie der Akademie der Wissenschaften der DDR, DDR-4050 Halle/S., Weinberg 2, Postfach 250, D.R.G.
DOI: 10.1051/jphyscol:19901148
THE STRUCTURE OF INTERFACES IN HIGH-TECH CERAMICS
J. WOLTERSDORF et E. PIPPELInstitut für Festkörperphysik und Elektronenmikroskopie der Akademie der Wissenschaften der DDR, DDR-4050 Halle/S., Weinberg 2, Postfach 250, D.R.G.
Abstract
L'efficience de la microscopie électronique à haute résolution et à haute tension pour la recherche de l'interface en domaine des matériaux céramiques (comme outil d'un "engineering microstructurel") est démontrée en utilisant des résultats sélectionnés des études concernant les céramiques composites de ZTA, Y-PSZ et TiC/Al2O3.
Abstract
The efficiency of high resolution and high-voltage electron microscopy for the interface research of ceramic materials (as a tool to "microstructural engineering") is demonstrated using selected results of investigations in ZTA, Y-PSZ and TiC/Al2O3 composite ceramics.