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J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C7, Octobre 1989
X-ray and Neutron Scattering from Surfaces and Thin FilmsProceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering |
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| Page(s) | C7-215 - C7-224 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989723 | |
X-ray and Neutron Scattering from Surfaces and Thin Films
Proceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering
J. Phys. Colloques 50 (1989) C7-215-C7-224
DOI: 10.1051/jphyscol:1989723
Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie, Universités P. et M. Curie et Paris VII, associé au CNRS, 4 Place Jussieu, F-75252 Paris Cedex 05, France
Proceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering
J. Phys. Colloques 50 (1989) C7-215-C7-224
DOI: 10.1051/jphyscol:1989723
X-RAY STANDING WAVES
A. AUTHIERLaboratoire de Minéralogie-Cristallographie, Universités P. et M. Curie et Paris VII, associé au CNRS, 4 Place Jussieu, F-75252 Paris Cedex 05, France
Résumé
On rappelle le principe de la méthode de détermination de la position des atomes aux surfaces et interfaces cristallines à l'aide d'ondes stationnaires de rayons X et on donne une revue bibliographique des principales applications. Les limites théoriques de la méthode sont discutées.
Abstract
The principle of the X-Ray Standing Wave technique for the location of atoms at crystalline surfaces and interfaces is recalled and a bibliographical review of the applications is given. The theoretical limitations of the technique are discussed.