Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C7, Octobre 1989
X-ray and Neutron Scattering from Surfaces and Thin Films
Proceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering
Page(s) C7-23 - C7-27
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989703
X-ray and Neutron Scattering from Surfaces and Thin Films
Proceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering

J. Phys. Colloques 50 (1989) C7-23-C7-27

DOI: 10.1051/jphyscol:1989703

IN-SITU STUDIES OF ELECTROCHEMICAL INTERFACES USING X-RAY RADIATION AT GRAZING ANGLES. APPLICATION TO LIQUID MERCURY

L. BOSIO, R. CORTES, M. DENOZIERE et G. FOLCHER

Laboratoire LP 15 du CNRS "Physique des liquides et Electrochimie", ESPCI, 10 rue Vauquelin, F-75231 Paris Cedex 05, France


Résumé
Après un énoncé sommaire des méthodes permettant l'étude in-situ des interfaces électrochimiques au moyen des rayons X, on expose des résultats nouveaux relatifs à la réflexion des rayons X sur la surface du mercure liquide en contact avec sa vapeur ou un gaz inerte et, pour la première fois, en contact avec l'eau ou un électrolyte.


Abstract
After a survey of the in-situ techniques used to probe the structure of electrochemical interfaces, we present new results obtained by specular X-ray reflectivity on the liquid-vapor, the liquid-gas and, for the first time, the liquid-water and liquid-electrolyte interface of mercury.