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J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C1, Janvier 1989
International Conference on the Physics of Multiply Charged Ions and International Workshop on E.C.R. Ion Sources
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| Page(s) | C1-445 - C1-458 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989151 | |
International Conference on the Physics of Multiply Charged Ions and International Workshop on E.C.R. Ion Sources
J. Phys. Colloques 50 (1989) C1-445-C1-458
DOI: 10.1051/jphyscol:1989151
1 Lawrence Livermore National Laboratory, P.O. Box 808, L-296, Livermore CA 94550, U.S.A.
2 Lawrence Berkeley Laboratory, Berkeley CA 94720, U.S.A.
J. Phys. Colloques 50 (1989) C1-445-C1-458
DOI: 10.1051/jphyscol:1989151
X-RAY SPECTROSCOPY OF HIGHLY-IONIZED ATOMS IN AN ELECTRON BEAM ION TRAP (EBIT)
R.E. MARRS1, C. BENNETT1, M.H. CHEN1, T. COWAN1, D. DIETRICH1, J.R. HENDERSON1, D.A. KNAPP1, M.A. LEVINE2, K.J. REED1, M.B. SCHNEIDER1 and J.H. SCOFIELD11 Lawrence Livermore National Laboratory, P.O. Box 808, L-296, Livermore CA 94550, U.S.A.
2 Lawrence Berkeley Laboratory, Berkeley CA 94720, U.S.A.
Résumé
Au laboratoire national de Lawrence Livermore, un piège à ions EBIT (Electron Beam Ion Trap) est utilisé afin de produire et de piéger des ions très fort chargés (q ≤ 70+), permettant de réaliser des mesures de spectroscopie rayons-X. Des mesures récentes de recombinaison diélectronique, d'excitation par impact électronique, et d'énergies de transitions sont présentées.
Abstract
An Electron Beam Ion Trap at Lawrence Livermore National Laboratory is being used to produce and trap very-highly-charged ions (q ≤ 70+) for x-ray spectroscopy measurements. Recent measurements of dielectronic recombination, electron impact excitation and transition energies are presented.