Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C1, Janvier 1989
International Conference on the Physics of Multiply Charged Ions and International Workshop on E.C.R. Ion Sources
Page(s) C1-53 - C1-70
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989106
International Conference on the Physics of Multiply Charged Ions and International Workshop on E.C.R. Ion Sources

J. Phys. Colloques 50 (1989) C1-53-C1-70

DOI: 10.1051/jphyscol:1989106

MULTIPLE CAPTURE AND IONISATION IN HIGH ENERGY ION-ATOM COLLISIONS

R. GAYET

Laboratoire des Collisions Atomiques, CNRS ER-260 Université Bordeaux I, F-33405 Talence Cedex, France


Résumé
Les processus multiélectroniques qui interviennent dans les collisions ion-atome à haute énergie, sont examinés à la lumière de Modèles à Electrons Indépendants dont certaines limites apparaissent pour les processus de double capture. On montre qu'un tel modèle permet d'exhiber des comportements non perturbatifs du processus d'ionisation. C'est aussi un outil remarquable pour prédire la production d'ions de recul très chargés ainsi que leur distribution en énergie quand la vitesse d'impact du faisceau primaire est suffisamment élevée.


Abstract
Multiple electron processes occuring in high energy ion-atom collisions are investigated through Independent Electron Models (IEM), some limits of which are indicated for double capture processes. It is shown that an IEM permits to exhibit non perturbative behaviours of the ionisation process. It appears to be a powerful tool to predict multiply charged recoil ion production and recoil energy distribution when the impact velocity of the primary beam is high enough.