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J. Phys. Colloques
Volume 48, Numéro C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell ProcessesVol. 1 |
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Page(s) | C9-199 - C9-202 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1987929 |
Vol. 1
J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-199-C9-202
DOI: 10.1051/jphyscol:1987929
MULTIPLET EFFECTS ON K FLUORESCENCE YIELDS OF MULTIPLY-CHARGED IONS
F. COMBET FARNOUXLaboratoire de Photophysique Moléculaire du CNRS, Bât. 213, Université Paris-Sud, F-91405 Orsay Cedex, France
Résumé
Ce travail présente des résultats originaux obtenus à partir de deux modèles théoriques différents pour les probabilités de transition X et Auger ainsi que les rendements de fluorescence K de certains ions multichargés d'aluminium (Z = 13). L'étude et la comparaison de ces différents résultats permettent de mettre en évidence que non seulement le rendement de fluorescence mais aussi l'influence des états multiplets initiaux pour les configurations (1s)(2s)2(2p)n croissent avec le degré d'ionisation.
Abstract
This work reports original results using two different theoretical models to calculate the X-ray and Auger transition probabilities as well as the K fluorescence yields for some multiply-charged ions of aluminium (Z = 13). The study and comparison between these various results allow us to point out that not only the fluorescence yield but also the influence of the initial multiplet states within the (1s)(2s)2(2p)n configurations increases with the ionisation degree.