Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 48, Numéro C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1
Page(s) C9-847 - C9-850
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19879151
X-Ray and Inner-Shell Processes
Vol. 1

J. Phys. Colloques 48 (1987) C9-847-C9-850

DOI: 10.1051/jphyscol:19879151

CALCULATED COMPTON PROFILES : EXPERIMENTAL CHECK OF THE DEVIATION FROM THE IMPULSE APPROXIMATION IN GRAPHITE

A. ISSOLAH1, J . CHOMILIER1, G. LOUPIAS1, 2, B. LEVY3 and A. BESWICK2

1  Laboratoire de Minéralogie-Cristallographie, Universités Paris VI et VII, CNRS UA-09, 4, Place Jussieu, T 16, F-75252 Paris Cedex 05, France
2  LURE, CNRS-CEA-MEN, Bât. 209D, Université Paris-Sud, F-91405 Orsay Cedex, France
3  Groupe de Chimie Quantique, Laboratoire de Physico-Chimie du Rayonnement, Bât . 337, Université Paris-Sud, F-91405 Orsay Cedex, France


Résumé
Pour obtenir les profils Compton de valence du graphite, on soustrait des profils expérimentaux un profil d'électrons de coeur du carbone soit impulsionnel SCF soit quasi SCF. Les profils de valence ainsi obtenus diffèrent en amplitude d'environ 2%, par contre l'anisotropie reste inchangée.


Abstract
To obtain the valence Compton profiles of graphite, a carbon core electron profile, either impulse SCF or quasi SCF, is subtracted from the experimental profiles. The valence profiles obtained are different by about 2% in amplitude but the anisotropy remains unchanged.