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J. Phys. Colloques
Volume 48, Numéro C6, Novembre 1987
34th International Field Emission Symposium / 34ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C6-571 - C6-576 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1987693 | |
34th International Field Emission Symposium / 34ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 48 (1987) C6-571-C6-576
DOI: 10.1051/jphyscol:1987693
UA CNRS 808, Laboratoire de Microscopie Ionique, Faculté des Sciences de Rouen, B.P. 67, 76130 Mont Saint Aignan, France
J. Phys. Colloques 48 (1987) C6-571-C6-576
DOI: 10.1051/jphyscol:1987693
DERIVATION OF MICROSTRUCTURE PARAMETERS OF FINELY DISPERSED SYSTEMS FROM ATOM-PROBE DATA
D. Blavette, A. Menand et A. BostelUA CNRS 808, Laboratoire de Microscopie Ionique, Faculté des Sciences de Rouen, B.P. 67, 76130 Mont Saint Aignan, France
Résumé
Différentes méthodes d'exploitation des profils de concentration obtenus à la sonde atomique sont discutées. Le calcul des paramètres microstructuraux d'un superalliage base Nickel contenant de petits précipités est commenté en exemple.
Abstract
Various methods available for the exploitation of atom-probe concentration profiles are discussed. The determination of microstructure parameters of a nickel base superalloy containing small precipitates is given as an example.