Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C8, Décembre 1986
EXAFS and Near Edge Structure IV
Page(s) C8-741 - C8-744
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19868140
EXAFS and Near Edge Structure IV

J. Phys. Colloques 47 (1986) C8-741-C8-744

DOI: 10.1051/jphyscol:19868140

STUDY OF SMALL DISTORSIONS IN Bi12MO20 OXIDES BY SIMPLE EXAFS TRANSMISSION TECHNICS

M.H. TUILIER1, 2, M. DEVALETTE3, N. KHACHANI3, M. DEXPERT1 et P. LAGARDE1

1  LURE (MEN, CNRS, CEA), Bâtiment 209D, Université de Paris-Sud, F-91405 Orsay Cedex, France
2  Laboratoire de Physique et de Spectrométrie Electronique, F-68093 Mulhouse, France
3  Laboratoire de Chimie du Solide, CNRS, F-33405 Talence Cedex, France


Résumé
Dans certaines phases de type sillénites Bi12 [A+xα B+yβ]O20, les distances interatomiques entre l'oxygène et les cations A et B localisés dans les sites tétraédriques de la structure ont été déterminées par EXAFS et ce, malgré les difficultés d'enregistrement dues à la concentration relativement faible des espèces A e t B en présence de bismuth fortement absorbant.


Abstract
In some Bi12 [A+xα B+yβ]O20 sillenite type phases the interatomic distances between oxygen and A or B cations located in tetrahedral sites of the lattice can be determined by EXAFS despite difficult recording conditions due to relatively low concentrations of A and B species in presence of strong absorbing bismuth.