Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C8, Décembre 1986
EXAFS and Near Edge Structure IV
Page(s) C8-607 - C8-614
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19868114
EXAFS and Near Edge Structure IV

J. Phys. Colloques 47 (1986) C8-607-C8-614

DOI: 10.1051/jphyscol:19868114

EXAFS IN DISPERSIVE MODE, A NEW TOOL FOR STUDYING IN SITU KINETICS : EXAMPLE OF ELECTROCHEMICAL INCLUSION OF COPPER SPECIES IN AN ORGANIC CONDUCTOR

E. DARTYGE, A. FONTAINE, G. TOURILLON et A. JUCHA

LURE, (Laboratoire CNRS, CEA, MEN), Bâtiment 209D, F-91405 Orsay Cedex, France


Résumé
Les mécanismes et les cinétiques d'inclusion électrochimique d'espèces cuivriques dans le poly 3methylthiophène (polymère organique conducteur) ont été étudiés in situ par spectroscopie s'absorption x en mode dispersif. Les mesures EXAFS, complémentaires des résultats déjà obtenus par XANES, permettent de distinguer trois étapes distinctes : - Réduction rapide de Cu2+ en Cu1+ complexé par l'oxygène du dopant utilisé lors de la synthèse du polymère (SO3CF3)- - Fixation des nouveaux ions Cu1+ formés par les atomes de soufre du poly 3methylthiophene - Croissance de plaquettes (111) métalliques de cuivre


Abstract
The mechanisms and the kinetics for the electrochemical inclusion of copper species inside poly 3methylthiophene (an organic conducting polymer) have been studied in situ by dispersive x ray absorption spectroscopy. The EXAFS results complement the three chemical steps previously deduced from XANES and the nature of chemical bonds formed during the inclusions processes are then precised : - a fast Cu2+ → Cu1+ reduction where the Cu1+ ions are complexed by the O atoms coming from the dopant used during the polymer synthesis (SO3CF3)- - Fixation of the new synthetized Cu1+ ions on the S atoms of poly 3methylthiophene - Growing of (111) metallic copper platelets.