EVALUATION OF DIFFRACTION DATA FROM ELECTRON DIFFRACTION PATTERNS OF NATURAL POLYMER MICROCRYSTALS

Résumé
Une méthode de traitement de données de diffraction électronique sur film est présentée. La réduction du bruit est obtenue par calcul de la moyenne des valeurs des données correspondant à des points équivalents par symétrie sur la figure de diffraction et par calcul d'une moyenne locale sur 3 points voisins. La soustraction globale du bruit de fond est effectuée après évaluation de celui-ci sous forme de développement polynomial dans le cas d'une approximation de moyenne radiale, sinon sous forme de développement en fonctions splines à 2 dimensions ; cette évaluation utilise les données situées entre les pics. L'intégration des pics est faite par une méthode d'autoconvolution appliquée soit aux valeurs d'intensité de chaque pic pris isolément soit à l'ensemble des données. Le programme a été conçu pour être d'utilisation facile et fonctionne à l'aide d'un menu. Il devrait être utilisable avec un microscope électronique équipé d'un ordinateur et d'un détecteur à localisation spatiale à 2 dimensions.

Abstract
Methods of evaluating electron diffraction data from films is discussed. Noise reduction is accomplished by heuristic averaging of symmetry related data and 3-point averaging. Global background is removed by radial polynomial fit to intermaxima data or by bivariate splinning. Integration is performed by self-convolution of data subarrays or main array quadrant. A user friendly, menu driven program set is described. The program should be usable in a computer controlled electron microscope with 2-D position sensitive detector.