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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
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| Page(s) | C5-75 - C5-85 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986510 | |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-75-C5-85
DOI: 10.1051/jphyscol:1986510
INTEGRATION OF OVERLAPPING PEAKS IN POSITION-SENSITIVE-DETECTOR (PSD) DATA BY LEAST-SQUARES FITTING
G.J. McINTYRE1 et D. VISSER21 Institut Laue-Langevin, 156X, F-38042 Grenoble Cedex, France
2 Inorganic Chemistry Laboratory, University of Oxford, South Parks Road, GB-Oxford OX1 3QR, Great-Britain
Résumé
La modélisation des réflexions partiellement superposées échantillonnées sur un réseau multi-dimensionnel est décrite. Dans le cas de la diffraction neutronique une fonction Gaussienne multi-variable est le plus souvent convenable et elle a l'avantage d'être facilement intégrable. Le choix des coordonnées fonctionnelles et des origines possibles des composantes non-Gaussiennes dans la distribution des données sont discutées. Des exemples de modélisation des réflexions de structures cristallines modulées, et de cristaux maclés ainsi que de réflexions d'un monocristal superposées à la diffusion d'une poudre sont présentées.
Abstract
The fitting of overlapping reflections sampled on a multi-dimensional grid is discussed. In the case of neutron diffraction a multi-variate Gaussian is usually appropriate, and has the distinct advantage of being readily integrated. The choice of the functional coordinates and the possible sources of non-Gaussian components in the observed distribution are discussed. Some examples of the fitting of overlapping reflections from incommensurate structures and from twinned crystals, and of single-crystal reflections superimposed on powder scattering are presented.