Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C5, Août 1986
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors
Page(s) C5-69 - C5-73
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986509
International Workshop on Evaluation of Single-Crystal Diffraction Data from 2-D Position-Sensitive Detectors

J. Phys. Colloques 47 (1986) C5-69-C5-73

DOI: 10.1051/jphyscol:1986509

THE DEVELOPMENT OF A FULL PROFILE ANALYSIS OF SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION DATA

D.J. THOMAS

M.R.C., Laboratory of Molecular Biology, Hills Road, GB-Cambridge CB2 2QH, Great-Britain


Résumé
La meilleure façon pour déterminer les vraies intensités des tâches de diffraction est d'utiliser l'analyse des profils. Les diffractomètres à détecteur bi-dimensionnel produisent des profils tri-dimensionnels. Nous proposons que le meilleur moyen de manipuler ces profils est de les développer sous forme de fonctions de Weber-Hermite.


Abstract
The best way to determine the true intensities of diffraction spots is by use of profile analysis. Area-detector diffractometers yield three-dimensional profiles. It is argued that the best way to handle these is by expansion in terms of Weber-Hermite functions.