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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C1, Février 1986
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics
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| Page(s) | C1-291 - C1-295 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986142 | |
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics
J. Phys. Colloques 47 (1986) C1-291-C1-295
DOI: 10.1051/jphyscol:1986142
GEMPPM, UA 341 C.N.R.S., INSA de Lyon, bât. 502, F-69621 Villeurbanne Cedex, France
J. Phys. Colloques 47 (1986) C1-291-C1-295
DOI: 10.1051/jphyscol:1986142
CARACTERISATION FINE DE CARBURES REFRACTAIRES PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION
T. EPICIERGEMPPM, UA 341 C.N.R.S., INSA de Lyon, bât. 502, F-69621 Villeurbanne Cedex, France
Résumé
l'intérêt de la Microscopie Electronique en Transmission, et en particulier des techniques de haute résolution (champ sombre en faisceau faible et obtention de franges de réseaux cristallins), pour la caractérisation fine des dislocations et des microstructures ordonnées dans les carbures métalliques est illustré par quelques exemples, VC~0.83, Nb6C5, Mo2C et W2C.
Abstract
the interest of the weak beam dark field and lattice imaging techniques in Transmission Electron Microscopy applied to the fine characterisation of dislocations and ordered microstructures in metallic carbides is shown through various examples, VC~0.83, Nb6C5, Mo2C and W2C.