| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C9, Décembre 1984
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C9-223 - C9-226 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984937 | |
31st International Field Emission Symposium / 31ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-223-C9-226
DOI: 10.1051/jphyscol:1984937
Laboratoire de Physique des Solides, 91405 Orsay, France
J. Phys. Colloques 45 (1984) C9-223-C9-226
DOI: 10.1051/jphyscol:1984937
LMIS ENERGY BROADENING INTERPRETATION SUPPORTED BY HV-TEM OBSERVATIONS
G. Ben Assayag et P. SudraudLaboratoire de Physique des Solides, 91405 Orsay, France
Résumé
Les largeurs énergétiques des faisceaux d'ions émis par LMIS de métaux nobles ont été mesurées. Une interprétation concernant la dispersion énergétique des ions simples est proposée à partir de l'effet Boersch et des résultats obtenus en microscopie électronique haute tension in-situ de LMIS.
Abstract
We give the values of energy spread for noble metal LMIS. An interpretation for simple ions is given using Boersch effect and results obtained in HV-TEM of Ga LMIS.