Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
Page(s) C2-353 - C2-356
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984280
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-353-C2-356

DOI: 10.1051/jphyscol:1984280

STUDY OF CHEMICAL COMPOSITION AND ELECTRONIC STRUCTURE OF HIGH-MELTING COMPOUNDS OF ZIRCONIUM BY ELECTRONIC AES

I.A. Brytov, A.S. Wander et V.S. Neshpor

VNIINauchprybor, Leningrad, U.S.S.R.


Résumé
Les changements de composition et de structure électronique des couches superficielles de carbures ZrCx et des nitrures ZrNy dans les domaines d'existence (0,51 < x ≤ 1,0, 0,76 ≤ y ≤ l,0),produits par chauffage sous bombardement électronique dans une gamme de températures de 300 K ≤ Th ≤ 2300 K sont étudiés par spectrométrie d'électrons Auger.


Abstract
Changes in chemical composition and electronic structure of surface layers of ZrCx and ZrNy in areas of homogeneity (0.51 < x ≤ 1.0, 0.76 ≤ y ≤ 1.0) under the action of sample heating by electron bombardment within the temperature range 300 K ≤ Th ≤ 2300 K have been studied using layer-bylayer analysis of sample surface by AES.