| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-309 - C2-312 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984269 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-309-C2-312
DOI: 10.1051/jphyscol:1984269
Université Claude Bernard, Lyon I, Département de Physique des Matériaux, 43 Boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-309-C2-312
DOI: 10.1051/jphyscol:1984269
SCANNING AUGER MICROANALYSIS AT HIGH ENERGY PROBES
M. Tholomier, P. Morin, E. Vicario et N. MubangaUniversité Claude Bernard, Lyon I, Département de Physique des Matériaux, 43 Boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France
Résumé
Des expériences de microanalyse Auger sur des îlots d'argent de dimensions de l'ordre de 50 nm - 200 nm sont décrites. Le rapport de la hauteur du pic Auger sur le fond continu ainsi que la résolution spatiale sont interprétés à l'aide des électrons rétrodiffusés.
Abstract
MicroAuger analysis on silver islands with 50 nm to 200 nm size, are described. Auger peak height to background ratio and spatial resolution are interpreted by means of backscattered electrons.