| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-239 - C2-242 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984253 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-239-C2-242
DOI: 10.1051/jphyscol:1984253
EDAX INTERNATIONAL, Inc., P.O. Box 135, Prairie View, IL 60069, U.S.A.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-239-C2-242
DOI: 10.1051/jphyscol:1984253
ELECTRON DIFFRACTION ANALYSIS
M.E. Whitehead et V. BalmerEDAX INTERNATIONAL, Inc., P.O. Box 135, Prairie View, IL 60069, U.S.A.
Résumé
On a développé un programme qui permet le stockage pratique et précis, sur ordinateur, de diagrammes de diffraction électronique. On utilise une table à numériser et le programme détermine automatiquement l'axe de zone.
Abstract
A program has been developed which allows convenient and accurate computer storage of electron diffraction spot patterns via a digitising pad, with subsequent zone axis evaluation.