| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-195 - C2-200 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984244 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-195-C2-200
DOI: 10.1051/jphyscol:1984244
Laboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., 29, rue Jeanne Marvig, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-195-C2-200
DOI: 10.1051/jphyscol:1984244
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P.W. HawkesLaboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., 29, rue Jeanne Marvig, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France
Résumé
Les tendances actuelles et quelques développements possibles dans le traitement des signaux provenant du MEB et du STEM sont analysés succinctement.
Abstract
Current trends and future possibilities in the processing of SEM and STEM signals are briefly surveyed.