| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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|---|---|---|
| Page(s) | C2-181 - C2-184 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984241 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-181-C2-184
DOI: 10.1051/jphyscol:1984241
School of Materials Science, University of Bath, U.K.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-181-C2-184
DOI: 10.1051/jphyscol:1984241
QUANTITATIVE LIGHT ELEMENT ANALYSIS USING EDS
D.J. Bloomfield, G. Love et V.D. ScottSchool of Materials Science, University of Bath, U.K.
Résumé
La méthode décrite traite du bruit de fond et des superpositions de pics dans les spectres en énergie des éléments très légers, ce qui permet de réaliser une analyse quantitative et d'améliorer la sensibilité de la détection des éléments légers.
Abstract
A method is described for dealing with background and peak overlap in light element ED spectra which enables quantitative analysis to be carried out and also improves light element detection sensitivities.