Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
Page(s) C2-65 - C2-68
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984216
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-65-C2-68

DOI: 10.1051/jphyscol:1984216

METALLIC MULTILAYERS MIRRORS : NEW POSSIBILITIES FOR SOFT X-RAY IMAGING AND SPECTROSCOPY

P. Dhez

ERA 719 and LURE, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France


Résumé
Par évaporation successive de deux matériaux correctement choisis on sait maintenant obtenir des réflecteurs de Bragg pour le domaine X-UV où jusqu'ici seule l'incidence rasante pouvait être employée.


Abstract
Successive evaporations of two correctly choosen elements permit now to obtain high efficient Bragg reflectors in X-UV where until now the grazing incidence optics was the only one solution.