Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
Page(s) C2-603 - C2-606
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842141
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-603-C2-606

DOI: 10.1051/jphyscol:19842141

UTILISATION DE LA SPECTROSCOPIE DE PERTES D'ÉNERGIE D'ÉLECTRONS À L'IDENTIFICATION DE DÉPÔTS INTRA-RÉNAUX

M. Mignon-Conte1, F. Carentz1, J. Pourrat1, J.J. Conte1, Y. Kihn2 et J. Sevely2

1  Laboratoire d'Immunopathologie Rénale et d'Immuno-pharmacologie, Service de Néphrologie et d'Hémodialyse, C.H.U. Purpan, 31059 Toulouse, France
2  Laboratoire d'Optique Electronique du C.N.R.S., B.P. 4347, 31055 Toulouse, France


Résumé
La technique de microanalyse par spectroscopie de pertes d'énergie d'électrons est utilisée pour l'identification chimique de divers types de dépots intra-rénaux. Elle a permis la détection de dépôts de béryllium, de silicium, d'iode, de fer et d'argent.


Abstract
Microanalysis by EELS has been used for the elemental identification of urinal deposits identification observed in fine pathological kidney sections. The technique has allowed the detection of béryllium, silicium, iodine, iron and silver deposits.