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J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C1, Janvier 1984
8th International Conference on Magnet Technology
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| Page(s) | C1-387 - C1-390 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984178 | |
8th International Conference on Magnet Technology
J. Phys. Colloques 45 (1984) C1-387-C1-390
DOI: 10.1051/jphyscol:1984178
Kernforschungszentrum Karlsruhe, Institut für Technische Physik, P.O.B. 3640, D-7500 Karlsruhe, F.R.G.
J. Phys. Colloques 45 (1984) C1-387-C1-390
DOI: 10.1051/jphyscol:1984178
DIRECT OBSERVATION OF CRYSTALLOGRAPHICAL CHANGES AT 10 K CAUSED BY THE APPLICATION OF VARYING STRESSES TO Nb3Sn WIRES
W. Goldacker et R. FlükigerKernforschungszentrum Karlsruhe, Institut für Technische Physik, P.O.B. 3640, D-7500 Karlsruhe, F.R.G.
Résumé
Des mesures de diffraction aux rayons X sur des fils de Nb3Sn mono et multifilamentaires ont été effectuées sous tension mécanique variable dans le domaine de température 5 ≤ T ≤ 300 K à l'aide d'un nouveau dispositif. La variation des modifications de la phase A15 dans ces fils a pu être détectée en fonction de l'élongation ε.
Abstract
X-ray diffraction measurements of Nb3Sn mono- and rnultifilamentary tapes have been performed in the temperature range 5 ≤ T ≤ 300 K under variable axial stress by means of a newly constructed device. The changes of the stress-induced crystallographical modification of the A15 phase have been observed as a function of applied strain ε.