Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-479 - C10-482
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831096
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-479-C10-482

DOI: 10.1051/jphyscol:19831096

MONOLAYER SURFACE RAMAN AND FLUORESCENCE SPECTROSCOPY OF THE ANTHRACENE CRYSTAL

M. Orrit, J. Bernard, J.M. Turlet et Ph. Kottis

Centre de Physique Moléculaire Optique et Hertzienne, Université de Bordeaux I, 33405 Talence Cedex, France


Résumé
L'observation du spectre d'excitation de la fluorescence de l'exciton de surface d'un cristal d'anthracène non recouvert et recouvert d'un film d'azote, nous a permis de mettre en évidence un mode de phonon de surface d'énergie plus basse que le mode correspondant dans le volume. La forme de raie de cette structure et son comportement lorsque la surface est recouverte, sont analysés en termes de diffusion Raman résonnante de surface, de relaxations intra-surface et vers le volume et de couplage entre la surface d'anthracène et le film déposé.


Abstract
We report evidence for of a surface lattice phonon with lower energy than its bulk counterpart, by observation of the excitation spectrum of surface exciton fluorescence for uncoated and N2-coated anthracene crystal (001) face. The line-shape of this surface structure and its behaviour on surface coating are an analysed in terms of surface resonant Raman scattering, intrasurface and surface-to-bulk relaxation processes and coupling between the anthracene surface and the N2 film.