Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-441 - C10-450
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831087
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-441-C10-450

DOI: 10.1051/jphyscol:19831087

LIGHT REFLECTION BY COMPLEX DYE MONOLAYERS

D. Möbius

Max-Planck-Institut für Biophysikalische Chemie (Karl-Friedrich-Bonhoeffer-Institut), Abteilung Molekularer Systemaufbau, D-3400 Göttingen-Nikolausberg, Am Fassberg, F.R.G.


Résumé
La réflexion de la lumière par une monocouche de colorant à une interface est amplifiée en raison de la relation de phase entre l'onde réfléchie à l'interface et les ondes diffusées de façon cohérente par les chromophores individuels. L'augmentation de la réflexion dans le domaine spectral de la bande d'absorption du colorant dépend linéairement de la densité des chromophores aux faibles densités. Dans les cas où on observe la contribution dépendant du carré de la densité que l'on attend, la constante d'amortissement de la diffusion cohérente de la lumière peut être déterminée à partir de mesures d'absorption et de réflexion. La méthode par réflexion est un outil extrêmement utile pour l'étude des phénomènes interfaciaux tels que l'adsorption, la formation de complexe ou la photoisomérisation, et pour le contrôle de l'organisation de monocouches.


Abstract
The reflection of light by dye monolayers at interfaces is enhanced due to the phase relation of the wave reflected at the interface and the coherently scattered waves from the individual chromophores. The enhancement of the reflection in the spectral range of the dye absorption band depends linearly on the density of chromophores at small densities. In cases where the expected contribution that depends on the square of the density is observed, the damping constant of coherent light scattering can be determined from absorption and reflection measurement. The reflection method is an extremely valuable tool for the investigation of interfacial processes like adsorption, complex formation or photoisomerization and for control of monolayer organization.