Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-403 - C10-405
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831083
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-403-C10-405

DOI: 10.1051/jphyscol:19831083

SPECTROSCOPY OF SURFACE POLARITON DIFFRACTION

V.M. Agranovich, V.E. Kravtsov et T.A. Leskova

Institute of Spectroscopy, USSR Academy of Sciences, Troitsk, Moscow obl., 142092, U.S.S.R.


Résumé
On étudie une large gamme d'effets apparaissant quand des ondes électromagnétiques de surface (polaritons de surface) sont diffratées par le bord d'un film diélectrique ou semi-conducteur déposé sur un métal.


Abstract
A wide range of effects arising at diffraction of surface electromagnetic waves (surface polaritons) at the edge of a dielectric or semiconductor film deposited on metal is discussed.