Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-379 - C10-382
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831077
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-379-C10-382

DOI: 10.1051/jphyscol:19831077

A STATISTICAL THEORY FOR THE DIELECTRIC PROPERTIES OF THIN ISLAND FILMS, APPLICATION AND COMPARISON WITH EXPERIMENTAL RESULTS

D. Bedeaux1 et J. Vlieger2

1  Institutt for Teoretisk Fysikk, Universitetet i Trondheim, Norges Tekniske Høgskole, N 7034 Trondheim-NTH, Norway
2  Instituut-Lorentz voor Theoretische Natuurkunde, Rijksuniversiteit te Leiden, Nieuwsteeg 18, 2311 SB Leiden, The Netherlands


Résumé
A partir de photographies de microscopie électronique de films minces e t discontinus d'or, étudiés expérimentalement par Norrman et collaborateurs, on calcule la transmittivité à l'aide d'une théorie statistique présentée précédemment. Les résultats sont en assez bon accord avec les valeurs expérimentales.


Abstract
Using the electron micrographs of thin discontinuous goldfilms, studied experimentally by Norrman et al., we calculated the transmittance on the basis of a statistical theory given in a previous paper. The results agree rather well with the experimental values.