Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-375 - C10-378
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831076
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-375-C10-378

DOI: 10.1051/jphyscol:19831076

QUANTUM-SIZE EFFECTS ON THE OPTICAL PROPERTIES OF SMALL PARTICLES

P. Ahlqvist1, P. de Andrés2, R. Monreal2 et F. Flores2

1  Ericson Radio System AB, Box 1001, S-431 26 Mölndal, Sweden
2  Departamento de Física det Estado Sólido, Universidad Autónoma, Cantoblanco, Madrid 34, Spain


Résumé
On présente une méthode permettant d'obtenir pour les couches minces une fonction diélectrique simplifiée incluant des effets de taille quantiques pour les excitations de paires électron-trou. Par une généralisation convenable au cas des sphères, on analyse la photoabsorption de ces systèmes. Les résultats montrent d'intéressants effets de taille quantiques associés aux résonances des paires électron-trou.


Abstract
A method is presented to obtain a simplified dielectric function for thin films, incorporating quantum-size effects for electron-hole pairs excitations. By a proper generalisation to spheres, we analyse the photoabsorption of these systems. Our results show interesting quantum-size effects associated with resonances of electron-hole pairs.