Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-327 - C10-330
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831064
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-327-C10-330

DOI: 10.1051/jphyscol:19831064

SURFACE ENHANCED RAMAN SCATTERING OF ETHYLENE ADSORBED ON VAPOR DEPOSITED SILVER IN UHV, EFFECTS OF THE SILVER FILM THICKNESS AND COVERAGE

A.V. Bobrov, A.N. Gass, O.I. Kapusta et N.M. Omel'yanovskaya

Institute of Spectroscopy, USSR Academy of Sciences, 142092, Troitsk, Moscow r-n, U.S.S.R.


Résumé
On présente les résultats de l'étude des spectres Raman de l'éthylène adsorbé sur des couches minces d'argent déposées à froid. Les résultats obtenus sont en accord avec le concept de "centres actifs". Les "centres actifs" occupent environ 20% de la surface de l'adsorbant.


Abstract
The paper presents the results of studying Raman spectra of ethylene adsorbed on coldly-deposited silver films. The results are consistent with a concept of the "active sites", which cover about 20% of the adsorbent surface.