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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-315 - C10-319 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831062 | |
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-315-C10-319
DOI: 10.1051/jphyscol:19831062
Institute of Spectroscopy, USSR Academy of Sciences, Troitsk, Moscow r-n, 142092, U.S.S.R.
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-315-C10-319
DOI: 10.1051/jphyscol:19831062
RAMAN SCATTERING FROM A MOLECULE ADSORBED AT THE METAL SURFACE, THE MOLECULAR CHARGE OSCILLATION MECHANISM
A.G. Mal'shukovInstitute of Spectroscopy, USSR Academy of Sciences, Troitsk, Moscow r-n, 142092, U.S.S.R.
Résumé
On présente un modèle de diffusion Raman exaltée de surface, dans lequel l'exaltation résulte de la modulation de la réfléctivité par la charge moléculaire totale qui oscille avec la fréquence de vibration. Les oscillations de charge sont dues à la variation périodique de la position du niveau moléculaire.
Abstract
The model for Surface Enhanced Raman Scattering is presented in which the enhancement is a result of reflectivity modulation by the molecular total charge which oscillates with the vibrational frequency. The charge oscillations are caused by the periodical variation in the molecular level position.