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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-283 - C10-294 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831059 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-283-C10-294
DOI: 10.1051/jphyscol:19831059
SURFACE ENHANCED RAMAN SCATTERING : AN OVERVIEW OF EXPERIMENTS
R.K. ChangYale University, Section of Applied Physics and Center for Laser Diagnostics, New Haven, Connecticut 06520, U.S.A.
Résumé
Les aspects expérimentaux de l'effet Raman exalté de surface sont brièvement en revue avec des expériences démontrant les mécanismes d'excitation électromagnétique et de transfert de charge, en insistant sur les mécanismes d'exaltation. Le manque de données quantitatives sur le recouvrement moléculaire sur des sites de surface spécifiques est discuté, ainsi que la nécessité de corréler les résultats de l'effet Raman exalté de surface avec d'autres données de physique des surfaces.
Abstract
Experimental aspects of surface enhanced Raman scattering (SERS) are briefly reviewed with experiments demonstrating electromagnetic and charge-transfer excitation, enhancement mechanisms being specifically noted. The lack of quantitative data on molecular coverage at specific surface sites is discussed, as well as the need to correlate SERS results with other surface physics sensitive data.