| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
|
|
|---|---|---|
| Page(s) | C10-225 - C10-228 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831047 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-225-C10-228
DOI: 10.1051/jphyscol:19831047
FURTHER DEVELOPMENT OF THE QUALITATIVE ELLIPSOMETRIC TECHNIQUE FOR THE STUDY OF CORROSION PROCESSES UNDER ORGANIC COATINGS
J.J. Ritter et J. KrugerCenter for Materials Science, National Bureau of Standards, Washington, DC 20234, U.S.A.
Résumé
On décrit un nouveau développement d'une technique ellipsométrique utilisée pour étudier les processus de corrosion sous revêtements organiques. Ce développement permet de détecter l'influence de différents revêtements organiques, de distinguer entre l'apparition de rugosité et la croissance d'un film ou sa dissolution, enfin d'étudier le processus de corrosion se produisant sur des sites anodiques et cathodiques séparés.
Abstract
We describe the further development of an ellipsometric technique used to study corrosion processes under organic coatings. These developments include the ability to (1) detect the effect of different organic coating, (2) distinguish between surface roughening and film growth or dissolution, and (3) study corrosion processes occurring on separate anodic and cathodic sites.