Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-213 - C10-216
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831044
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-213-C10-216

DOI: 10.1051/jphyscol:19831044

ELLIPSOMETRY OF NICKEL-OXIDES AND -HYDROXIDES IN ALKALINE ELECTROLYTE

W. Visscher

Laboratory for Electrochemistry, Department of Chemical Technology, Eindhoven University of Technology, P.O. Box 513, 5600 MB Eindhoven, The Netherlands


Résumé
La croissance et l'oxydation de couches minces de Ni (OH)2 déposées sur Ni ont été étudiées par ellipsométrie. Les indices de réfraction de α-Ni (OH)2, β-Ni (OH)2 et γ2-NiOOH ont été obtenus à la longueur d'onde 546,1 nm. On a également étudié l'oxydation anodique de Ni dans 0,1 M KOH. La couche de passivation est initialement NiO.xH2O. Un cyclage répété des potentiels anodique et cathodique modifie les propriétés optiques de cette couche et conduit à la formation d'une couche d'oxyde de faible densité.


Abstract
The growth and oxidation of thin Ni(OH)2 films deposited on Ni were investigated by ellipsometry. The refractive indices of α-Ni(OH)2, β-Ni(OH)2 and γ2-NiOOH were obtained at the wavelength 546.1 nm. Furthermore, the anodic oxidation of Ni in 0.1 M KOH was studied. The passive oxide layer is initially NiO.x H2O. Repeated anodic and cathodic potential cycling change the optical properties of this layer and leads to the growth of a low density oxide layer.