Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-209 - C10-212
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831043
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-209-C10-212

DOI: 10.1051/jphyscol:19831043

TRANSMITTANCE MEASUREMENTS ON DISCONTINUOUS COPPER FILMS : A SENSITIVE METHOD FOR STUDYING THE OXIDATION PROCESS

P. Picozzi et S. Santucci

Dipartimento di Fisica, Universita' de L'Aquila, 67100 L'Aquila, Italy


Résumé
On a mesuré la transmission optique de films discontinus de cuivre à différents stades d'oxydation dans l'intervalle de longueur d'onde 0,25 - 2,5 µm. Nos résultats sont en bon accord avec les données théoriques calculées grâce à la théorie du milieu effectif de Bruggeman appliquée a un mélange homogène de sphères d'air, de cuivre et d'oxyde de cuivre. La comparaison entre les données expérimentales et celles qu'on a mesurées permet d'évaluer l'augmentation de masse de l'échantillon pendant la croissance de l'oxyde.


Abstract
The optical transmittance of discontinuous copper films at different stages of oxidation in air have been recorded for wavelengths .25 - 2.5 µm. Our data agree with the computation based on the Bruggeman effective medium theory, considering the film as an homogeneous mixture of copper, cuprous oxide and air particles. The comparison between the experimental and calculated spectra allowed us to estimate the mass increase of the samples during the growth of cuprous oxide.