Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-187-C10-190
DOI: 10.1051/jphyscol:19831038

STUDY OF SURFACES COVERED BY THIN FILMS, BY SPEC AND RAMAN SPECTROSCOPY

M. Froelicher¹, A. Hugot-Le Goff¹, V. Jovancicevic², R. Dupeyrat³ et M. Masson<sup>3

1</sup>  G.R. 4 du C.N.R.S., "Physique des Liquides et Electrochimie", associé à l'Université Pierre et Marie Curie, Tour 22, 4, Place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France
²  Centre de Recherches du Fer-Blanc, B.P. 135, Chaussée d'Europe, 57103 Thionville Cedex, France
³  D.R.P., L.A. 71 du C.N.R.S., Université Pierre et Marie Curie, Tour 22, 4, Place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France

Résumé
On décrit ici deux techniques originales, adaptées à l'étude et à l'identification in-situ de films solides fins, apparaissant au cours de traitements électrochimiques : la spectrophotoélectrochimie (SPEC), c'est-à-dire l'analyse spectrale des courants électrochimiques photogénérés dans le film, d'une part, et d'autre part la spectroscopie Raman, utilisée au cours de l'électrolyse. Ces techniques sont appliquées à l'étude de la passivité du fer.

Abstract
Two new techniques, well-suited to the in-situ study and identification of the thin films grown during electrochemical processes are described here: on the one hand the spectrophotoelectrochemistry (SPEC) i.e., the spectral analysis of the photogenerated electrochemical currents in the film, and, on the other hand, Raman spectroscopy during electrolysis. These techniques are applied to the study of the passivity of iron.