Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-171 - C10-174
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831034
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-171-C10-174

DOI: 10.1051/jphyscol:19831034

ATR STUDIES OF WATER ON EMERSED ELECTRODES

J.G. Gordon II

IBM Research Laboratory, 5600 Cottle Road, San Jose, CA 95193, U.S.A.


Résumé
En utilisant la spectroscopie de plasmon de surface, nous avons observé que le film d'eau sur une électrode d'argent émergée a une épaisseur d'au plus 4nm. L'épaisseur est fonction de l'humidité relative et, à faible humidité, du potentiel.


Abstract
We have used surface plasmon spectroscopy to determine that the water on an emersed silver electrode is at most 4 nm thick. The thickness depends on the relative humidity and, at low humidity, on the emersion potential.