Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-147 - C10-154
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831030
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-147-C10-154

DOI: 10.1051/jphyscol:19831030

ELLIPSOMETRY OF LIQUID SURFACES

D. Beaglehole

Physics Department, Victoria University of Wellington, Wellington, New-Zealand


Résumé
Les propriétés telles que la densité, la composition et l'orientation moléculaire sont altérées aux abords de la surface que forme un liquide avec sa vapeur, avec des parois et entre deux phases liquides, par rapport à leurs valeurs au sein du liquide. L'ellipsométrie peut être utilisée afin d'étudier ces modifications, et dans cet article nous passons en revue la mesure et l'interprétation du coefficient d'ellipticité.


Abstract
Properties such as density, composition and molecular orientation are altered near the surface which a liquid forms with its vapour, with walls and between liquid phases, from values well inside the liquid. Ellipsometry can be used to study these changes and the paper reviews measurement and interpretation of the coefficient of ellipticity.