Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-127 - C10-130
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831027
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-127-C10-130

DOI: 10.1051/jphyscol:19831027

ANISOTROPIC REFRACTIVE INDICES OF CADMIUM SULFIDE THIN FILM ON A SLAB-TYPE OPTICAL WAVEGUIDE

K. Sasaki, T. Shimizu, O. Nonaka, O. Hamano et M. Serizawa

Faculty of Science and Technology, Keio University, 3-14-1, Hiyoshi, Yokohama 223, Japan


Résumé
Les indices de réfraction anisotropes de couches minces de sulfure de cadmium déposées par évaporation sous vide sur des guides d'onde optiques, ont été déterminés par l'analyse croisée des ondes TE et TM.


Abstract
Anisotropic refractive indices of vacuum evaporated cadmium sulfide thin films on slab-type optical waveguides were determined by an incorporated analysis of the TE and the TM waves.