Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
Page(s) C10-513 - C10-516
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:198310105
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis

J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-513-C10-516

DOI: 10.1051/jphyscol:198310105

APPLICATION OF THE VISIBLE ELECTROREFLECTANCE SPECTROSCOPY TO THE CHARACTERIZATION OF PROCESSES OCCURRING ON GOLD ELECTRODES

C. Nguyen Van Huong et C. Hinnen

Laboratoire d'Electrochimie Interfaciale du C.N.R.S., 1, Place A. Briand, 92195 Meudon Principal Cedex, France


Résumé
Les phénomènes d'adsorption sur des surfaces d'Au (110) et (311) sont étudiés en couplant une analyse électrochimique et des mesures d'électroréflectance. Ces expériences permettent également de caractériser une réaction rédox entre molécules de cytochrome adsorbées.


Abstract
Adsorption phenomena at Au (110) and (311) surfaces are investigated by coupling electrochemical analysis and electroreflectance measurements. These experiments also allow to characterize a redox reaction in adsorbed cytochrome.